|
عنوان
|
سنتز فوتوکاتالیست کامپوزیتی مغناطیس سخت هگزافریت باریم/ سیلیس/ اکسید روی/ نقره با نانو ساختار هسته– پوسته–پوسته و ارزیابی کارایی فوتوکاتالیستی آن برای تجزیه متیلنآبی
|
|
نوع پژوهش
|
پایان نامه
|
|
کلیدواژهها
|
نانوکامپوزیت، فوتوکاتالیست، نانوساختار هسته/ پوسته، مواد مغناطیسی سخت، پوششدهی ذرات
|
|
چکیده
|
کامپوزیتهای فوتوکاتالیست مغناطیسی BaFe12O19/SiO2/ZnO-Ag دارای نانوساختار هسته/پوسته/پوسته با موفقیت آماده شدند. بدینمنظور، ذرات هگزافریت باریم به عنوان هستهی مغناطیسی سخت در این کامپوزیت به روش همرسوبی با استفاده از محلول کلرید آهن و کلرید باریم سنتز شد و دو نسبت Fe3+/Ba2+ برابر با 11 و 12 مورد ارزیابی قرار گرفت. سپس پوششدهی سیلیس به روش استوبر با کنترل هیدرولیز و چگالش پیشمادهی تترا اتیل اورتوسیلیکات (TEOS) بر روی ذرات هگزافریت باریم انجام پذیرفت. برای پوششدهی اکسید روی، نانوساختار BaFe12O19/SiO2 تهیه شده در مرحله قبل در حلال دیمتیلفرمامید DMF)) با کمک حمام اولتراسونیک پراکنده گردید و سپس محلولهای Zn(NO3)2.6H2O و سود اضافه شد و تحت همزدن قرار گرفت. پودر کامپوزیتی حاصل با استفاده از جدایش مغناطیسی جدا شده و سپس بعد از شستن و خشککردن، کلسینه گردید. در مرحله نهایی، نانوساختار کامپوزیتی BaFe12O19/SiO2/ZnO سنتز شده به محلول نیترات نقره آمونیاکی (Ag(NH3)2NO3) اضافه گردید. سپس مخلوط PVP و اتانول به مخلوط پیشین اضافه شد. مخلوط تحت رفلاکس قرار گرفته و پودر نهایی BaFe12O19/SiO2/ZnO-Ag حاصل با اتانول شسته و خشک گردید. برای تعیین ترکیب فازی نمونههای تهیه شده از الگوی پراش اشعه ایکس(XRD) استفاده شد و آنالیز شیمیایی عناصر توسط طیفسنجی پراش انرژی پرتو ایکس (EDS) انجام پذیرفت. برای تجزیه و تحلیل پیوندهای شیمیایی و حالات شیمیایی نانوساختارهای تهیه شده از طیفسنجی تبدیل فوریه مادون قرمز (FTIR) و طیفشناسی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS) استفاده شد. مورفولوژی ذرات کامپوزیتی تهیه شده با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی (FESEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)ارزیابی شد. خواص فوتوکاتالیستی نانوساختار بدست آمده، تحت تابش نور UV و به کمک حذف رنگ متیلنآبی و سپس انجام طیفنگاری جذبی مرئی- فرابنفش مورد مطالعه قرار گرفت. علاوه بر این، خواص مغناطیسی با استفاده از آنالیز مغناطیسسنج نمونه ارتعاشی (VSM) بررسی شد. آنالیز خواص مغناطیسی نشان داد که پوششدهی سیلیس، اکسیدروی و نقره بر روی ذرات هگزافریت باریم باعث کاهش مغناطش اشباع (Ms) شده است. نتایج حاکی از آن بود که کامپوزیت BaFe12O19/SiO2/ZnO/Ag خواص فوتوکاتالیستی دارد و با جدایش مغناطیسی قابل بازیابی است. حذف متیلنآبی به میزان 78% در حضور پودر فوتوکاتالیستی در مدت 180 دقیقه تابش اشعه UV بدست آمد. ذرات کامپوزیتی بازیابی شده مجدداً قابلیت استفاده دارند.
|
|
پژوهشگران
|
مهدی منتظری پور (استاد مشاور)، مسعود رجبی (استاد راهنما)، زهرا سلطان محمدی (دانشجو)
|